「試験計測等料金表」令和6年7月1日改定のお知らせ          

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 「試験計測等料金表」が令和6年7月1日から改定されます。

 新料金表につきましては、以下の試験計測等料金表(PDF版)をご確認ください。

  試験計測等料金表(PDF版)はこちら

 また、同日付で以下のとおり、試験項目が新設・削除されます。

● 新規に追加される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金                                                              

単位:円

No.項 目単 位料 金担当部名
E0778薄膜硬さ試験1時間当たり5,940電子技術部
E1125触針式膜厚測定1測定につき4,400電子技術部
E1126触針式表面形状測定1測定につき12,650電子技術部
E2774試料調製(測定後処理)E2750,E2751,E2760,E2761,E2770 に適用3,630化学技術部
E2925ガス・水蒸気透過度測定1試料・1測定につき(24時間まで)28,600化学技術部
E3020蛍光X線法による膜厚測定1試料1ヶ所につき5,170化学技術部

機器使用料金                                                               

単位:円(1時間当たり)

No.項 目メーカー・型式料 金担当部名
E6970触針式膜厚計小坂研究所 ET4000AKR2,090電子技術部

● 削除される試験項目は以下のとおりです。

機器使用料金                                                    

単位:円(1時間当たり)

No.項 目メーカー・型式料 金担当部名
E7280透明プラスチック残留応力観察装置理光研 ポラリスコープPS-5  1,650化学技術部

詳細は担当部にお問い合わせください。

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