「試験計測等料金表」令和６年７月１日改定のお知らせ　　　　　　　　　　

　日頃、KISTECを御利用いただき、誠にありがとうございます。

　「試験計測等料金表」が令和６年７月１日から改定されます。

　新料金表につきましては、以下の試験計測等料金表（PDF版）をご確認ください。

　　試験計測等料金表（ＰＤＦ版）はこちら

　また、同日付で以下のとおり、試験項目が新設・削除されます。

●　新規に追加される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

単位：円

No.項　目単　位料　金担当部名
E0778薄膜硬さ試験1時間当たり5,940電子技術部
E1125触針式膜厚測定１測定につき4,400電子技術部
E1126触針式表面形状測定１測定につき12,650電子技術部
E2774試料調製（測定後処理）E2750,E2751,E2760,E2761,E2770 に適用3,630化学技術部
E2925ガス・水蒸気透過度測定1試料・1測定につき（24時間まで）28,600化学技術部
E3020蛍光X線法による膜厚測定１試料１ヶ所につき5,170化学技術部

機器使用料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

単位：円（１時間当たり）

No.項　目メーカー・型式料　金担当部名
E6970触針式膜厚計小坂研究所　ET4000AKR2,090電子技術部

● 削除される試験項目は以下のとおりです。

機器使用料金　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

単位：円（１時間当たり）

No.項　目メーカー・型式料　金担当部名
E7280透明プラスチック残留応力観察装置理光研　ﾎﾟﾗﾘｽｺｰﾌﾟPS-5　　1,650化学技術部

詳細は担当部にお問い合わせください。

引き続き皆様のご利用をお待ちしております。