市販トナーの断面観察事例
トナー粒子の内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。
<試料>
トナー粒子
<使用機器>
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
断面試料作製用イオンミリング装置
柔らかい材料の内部構造の観察も可能です。
トナー粒子の内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。
<試料>
トナー粒子
<使用機器>
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
断面試料作製用イオンミリング装置
柔らかい材料の内部構造の観察も可能です。