サービス・事例・機器検索
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磁化特性測定（積分方式）
BHカーブトレーサを用いた直流B-H測定によって、B-H曲線、初磁化曲線、保磁力、残留磁束密度、最大...
電子技術部
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磁化温度特性測定
VSM装置を用いて-196～800℃における磁性材料のB-H曲線、M-H曲線／磁気モーメント-温度特...
電子技術部
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電気機器・電力測定
電気製品、電気回路の消費電力測定単相のみ実施可能、最大2kVAまで 【試験対象】 電気製品、電...
電子技術部
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イーサネットコンプライアンステスト
米国電気電子学会の規格のIEEE802.3に基づき、1000BASE-Tの規格に対応したコンプライア...
情報・生産技術部
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電気機器・温度試験
電気製品における温度上昇試験 【試験対象】 電気製品 【関連キーワード】 温度試験、温度...
電子技術部
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絶縁抵抗試験
電子機器／部品、絶縁材料などの絶縁抵抗を測定。JIS、電気用品安全法 等の規格に対応し、以下の測定が...
電子技術部
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電気機器・耐電圧試験
電子機器／部品、絶縁材料などの絶縁耐力を測定。JIS、電気用品安全法 等の各種規格に対応し、以下の測...
電子技術部
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電気機器・接地回路の抵抗測定
電気製品における保護接地回路の抵抗測定（電気的安全性評価）JIS C6950-1, T0601-1 ...
電子技術部
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電気機器・漏れ電流測定
電気製品における漏えい電流の測定（電気的安全性評価）JIS C6950-1, T0601-1, 電気...
電子技術部
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電流電圧測定
電子回路等における電流または電圧の測定 【試験対象】 電子回路
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低抵抗測定
電子部品等の電気抵抗測定 【試験対象】 電子部品 【関連キーワード】 ミリオームメータ
電子技術部
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川﨑技術支援部
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