サービス・事例・機器検索
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触針式膜厚測定
試料表面に触針を走査させて、段差の高さから薄膜の膜厚を測定します。 【試験対象】 薄膜付きの基...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
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冷熱衝撃試験(中・ハイパワータイプ)
電子技術部
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接合強度試験(ダイシェア試験)
電子技術部
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粒径分布測定(静的画像解析法)
機械・材料技術部
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摩耗試験
機械・材料技術部
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接合強度試験(ワイヤーボンディング強度試験)
電子技術部
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高出力高精細X線CT撮影
Ⅹ線により非破壊で試料内部の状態を3次元的に観察する。断層画像や立体像が得られる。 最大管電圧:30...
機械・材料技術部
- 性能評価
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- #内部観察機器
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恒温恒湿槽
電子技術部
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電圧・電流波形測定(オシロスコープ)
電子技術部
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イオンミリング法による試料調製
イオンビームを用いた断面試料作製 【試験対象】 金属、セラミックス、めっき、塗膜等 クロ...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- (材料共通)
- #微細加工
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ハイパワー恒温恒湿槽
電子技術部
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恒温恒湿槽(低湿度対応,PDL)
電子技術部
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