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サービス・事例・機器検索
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高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定
半導体中の不純物（ドーピング元素）をスペクトルピーク値から定性分析し、ピーク強度から半定量分析します...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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低温光特性評価
クライオスタットを用いて５Kまでの極低温に冷却が可能です。ガラス窓を備えており、光学特性評価が可能で...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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エージング試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での耐久性を確認します。 【試験対象】...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品の従来品との互換性を確認します。CC-Link協会コンフォー...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 材料観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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ソフトウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のソフトウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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組み合わせ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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ノイズ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品にノイズを加えた時の動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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ハードウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のハードウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
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レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工