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低抵抗測定
電子部品等の電気抵抗測定 【試験対象】 電子部品 【関連キーワード】 ミリオームメータ
電子技術部
- 電気計測・試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #電気計測機器
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電気機器・漏れ電流測定
電気製品における漏えい電流の測定（電気的安全性評価）JIS C6950-1, T0601-1, 電気...
電子技術部
- 電気計測・試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #安全性評価
- #性能評価
- #電気計測機器
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電流電圧測定
電子回路等における電流または電圧の測定 【試験対象】 電子回路
電子技術部
- 電気計測・試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #電気計測機器
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品の従来品との互換性を確認します。CC-Link協会コンフォー...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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エージング試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での耐久性を確認します。 【試験対象】...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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ハードウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のハードウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
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- #性能評価
- #CC-Link
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ソフトウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のソフトウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
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- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川崎技術支援部
- 材料観察
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- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
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ノイズ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品にノイズを加えた時の動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
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相互接続性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作をJEM1480の試験方法により確認し...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net