サービス・事例・機器検索SEARCH
サービス・事例・機器検索
-
画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
-
組み合わせ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
-
インタオぺラビリティ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品の従来品との互換性を確認します。CC-Link協会コンフォー...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
-
エージング試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のネットワーク上での耐久性を確認します。 【試験対象】...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
-
酸化拡散試験
酸素や水蒸気を利用し、Si（シリコン）ウェハへ熱酸化により、酸化膜の形成を行います。また、Siウエハ...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
-
ハードウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のハードウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
-
集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
-
ノイズ試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品にノイズを加えた時の動作を確認します。 【試験対象】 ...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
-
ソフトウェア試験（CC-Link）
CC-Linkに接続するための新規の製品のソフトウェア上の設定を確認します。 【試験対象】 新...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #CC-Link
-
相互接続性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品のネットワーク上での動作をJEM1480の試験方法により確認し...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net
-
レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川崎技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工
-
光触媒のトルエン除去性能試験
JISR1701-3 光触媒 空気浄化 トルエン除去性能試験 JIS R 1701-3 ファイ...
川崎技術支援部
- 性能評価
- 光触媒評価
- 光触媒
- #空気浄化
- #光触媒
- #JIS