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マニュアルボールボンダによるワイヤーボンディング 【試験対象】　電子材料、半導体金線のワイヤー...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #部品実装

光触媒材料のセルフクリーニング性能試験　JIS R 1703-1 水接触角　JIS R 1703-...

川﨑技術支援部

• 性能評価
• 光触媒評価

• 光触媒

• #光触媒
• #JIS
• #親水性

マニュアルウェッジボンダによるワイヤーボンディング 【試験対象】　電子材料、半導体例：アルミ線...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #部品実装

光触媒の水浄化性能試験（JISR1704準拠） JIS R 1704 ファインセラミックス−活...

川﨑技術支援部

• 性能評価
• 光触媒評価

• 光触媒

• #水質浄化
• #光触媒
• #JIS

表面改質、有機物除去 【試験対象】　CF4プラズマ処理、酸素プラズマ処理例）レジスト残渣の除去...

電子技術部

• 設計加工
• 微細加工

• 電気・電子製品
• 電子材料

• #薄膜作成・成膜

半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #半導体特性評価

JISR1701-3 光触媒 空気浄化 トルエン除去性能試験 JIS R 1701-3 ファイ...

川﨑技術支援部

• 性能評価
• 光触媒評価

• 光触媒

• #空気浄化
• #光触媒
• #JIS

熱過渡解析によるパワーデバイスの熱抵抗測定を行います。構造関数を算出してデバイスの放熱特性や放熱経路...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #熱分析
• #パワーデバイス

低照度環境下におけるI-V測定 低照度環境におけるI-V測定を行います。

川﨑技術支援部

• 性能評価
• 太陽電池評価

• 太陽電池

• #太陽電池評価

XeランプSSによる連続照射 Xe光源下での光照射を行います。

川﨑技術支援部

• 性能評価
• 太陽電池評価

• 太陽電池

• #太陽電池評価

精密機械研磨装置（EM TXP）は光学顕微鏡、SEMおよびTEM用試料の切断・研磨のためのターゲット...

川﨑技術支援部

• 材料観察
• 試料調製・前処理

• （材料共通）

• #微細加工

太陽電池のIPCE測定

川﨑技術支援部

• 太陽電池評価
• 性能評価

• 太陽電池

• #太陽電池評価