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半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #半導体特性評価

JISR1701-3 光触媒 空気浄化 トルエン除去性能試験 JIS R 1701-3 ファイ...

川崎技術支援部

• 性能評価
• 光触媒評価

• 光触媒

• #空気浄化
• #光触媒
• #JIS

熱過渡解析によるパワーデバイスの熱抵抗測定を行います。構造関数を算出してデバイスの放熱特性や放熱経路...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

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• #パワーデバイス

光触媒材料のセルフクリーニング性能試験　JIS R 1703-1 水接触角　JIS R 1703-...

川崎技術支援部

• 性能評価
• 光触媒評価

• 光触媒

• #光触媒
• #JIS
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２灯式SSによる連続照射

川崎技術支援部

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• 太陽電池評価

• 太陽電池

• #太陽電池評価

LED-SSによる特定波長の光照射

川崎技術支援部

• 性能評価
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• 太陽電池

• #太陽電池評価

XeランプSSによる連続照射 Xe光源下での光照射を行います。

川崎技術支援部

• 太陽電池評価
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• 太陽電池

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イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...

川崎技術支援部

• 材料観察
• 試料調製・前処理

• （材料共通）

• #微細加工

イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...

川崎技術支援部

• 材料観察
• 試料調製・前処理

• （材料共通）

• #微細加工

精密機械研磨装置（EM TXP）は光学顕微鏡、SEMおよびTEM用試料の切断・研磨のためのターゲット...

川崎技術支援部

• 材料観察
• 試料調製・前処理

• （材料共通）

• #微細加工

低照度環境下におけるI-V測定 低照度環境におけるI-V測定を行います。

川崎技術支援部

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