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光触媒のセルフクリーニング試験
光触媒材料のセルフクリーニング性能試験 JIS R 1703-1 水接触角 JIS R 1703-...
川﨑技術支援部
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超音波ウェッジボンダ試験
マニュアルウェッジボンダによるワイヤーボンディング 【試験対象】 電子材料、半導体例:アルミ線...
電子技術部
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低照度光源による光照射
低照度光源による光照射
川﨑技術支援部
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LED-SSによる特定波長の光照射
LED-SSによる特定波長の光照射
川﨑技術支援部
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2灯式SSによる連続照射
2灯式SSによる連続照射
川﨑技術支援部
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無抵抗電流計による電流値測定
無抵抗電流計による電流値測定 無抵抗電流計で、太陽電池の電流値を測定します。ヒステリシスの原因...
川﨑技術支援部
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イオンミリング法 (小さい試料用)
イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...
川﨑技術支援部
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イオンミリング法 (大きい試料用)
イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...
川﨑技術支援部
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ウルトラミクロトーム法
ウルトラミクロトーム法 ウルトラミクロトームは各種顕微鏡に用いるための試料を作製する装置です。...
川﨑技術支援部
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太陽電池のIPCE測定
太陽電池のIPCE測定
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XeランプSSによる連続照射
XeランプSSによる連続照射 Xe光源下での光照射を行います。
川﨑技術支援部
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各種コーティング(カーボンコーティング他)
SEMやFIBの導電性処理として、各種のコーティングを行います。※金属コーティングは断面観察時におい...
川﨑技術支援部
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