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その他光触媒性能試験 ご希望の条件でテーラーメイドな試験を実施します。 JIS試験などの...

川崎技術支援部

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半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の...

電子技術部

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JISR1701-3 光触媒 空気浄化 トルエン除去性能試験 JIS R 1701-3 ファイ...

川崎技術支援部

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熱過渡解析によるパワーデバイスの熱抵抗測定を行います。構造関数を算出してデバイスの放熱特性や放熱経路...

電子技術部

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光触媒材料のセルフクリーニング性能試験　JIS R 1703-1 水接触角　JIS R 1703-...

川崎技術支援部

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低照度光源による光照射

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２灯式SSによる連続照射

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イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...

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イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...

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ウルトラミクロトーム法 ウルトラミクロトームは各種顕微鏡に用いるための試料を作製する装置です。...

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太陽電池のIPCE測定

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SEMやFIBの導電性処理として、各種のコーティングを行います。※金属コーティングは断面観察時におい...

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