サービス・事例・機器検索
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FIB-SEMによる断面観察事例
FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。 FIB-SEM...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
- #組成分析
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金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...
川﨑技術支援部
- 材料観察
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- 金属材料
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- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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光学多層薄膜上の異常部の解析事例
光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...
川﨑技術支援部
- 微細構造観察
- 材料観察
- 電気・電子製品
- 膜材
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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HIPSの三次元解析事例
FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽...
川﨑技術支援部
- 高分子材料
- #微細構造解析
- #組織観察
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めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析
めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...
川﨑技術支援部
- 材料観察
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- #電子顕微鏡
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イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例
Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...
川﨑技術支援部
- 材料観察
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- #電子顕微鏡
- #形状観察
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携帯電話ケース異常突起物の断面解析例
＜使用機器＞ 精密機械研磨装置（EM-TXP） 光学顕微鏡 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）...
川﨑技術支援部
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- #光学顕微鏡
- #電子顕微鏡
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ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- #光学顕微鏡
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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マイクロカンチレバーの作製・測定事例
マイクロカンチレバー※を作製し、その試験片を用いて、材料表面（微小領域）の強度測定を行えます。 ...
川﨑技術支援部
- 強度試験
- 材料強度
- 金属材料
- セラミックス・無機酸化物
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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イオンミリング装置 [IB-19520CCP]
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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イオンミリング装置 [Ilion+]
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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精密機械研磨装置 [Leica EM-TXP]
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工