サービス・事例・機器検索SEARCH
サービス・事例・機器検索
-
集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
川﨑技術支援部
- 材料分析
- 材料観察
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
-
衝撃試験機（シャルピー・アイゾット）
化学技術部
- 強度試験
- 材料強度
- 高分子材料
- #強度試験機
-
カールフィッシャー水分測定装置
化学技術部
- 材料分析
- 定量分析
- 有機材料
- #成分分析
-
示差熱熱重量測定装置
化学技術部
- 熱物性測定
- 材料物性
- 高分子材料
- #熱分析
-
接触角計
川﨑技術支援部
- 粉体・表面性能
- 材料物性
- 性能評価
- 光触媒評価
- 膜材
- 光触媒
- 塗装・メッキ製品
- #界面
- #粒度分布
-
半導体デバイスアナライザ
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
-
複合サイクル試験機（小型）
化学技術部
- 性能評価
- 耐候性・耐食性試験
- 塗装・メッキ製品
- #腐食
- #環境試験
- #耐食性
-
高性能電気化学測定システム（ポテンショガルバノスタット/FRA）
化学技術部
- 材料物性
- 電気化学試験
- 燃料電池・二次電池評価
- 性能評価
- 金属材料
- 燃料電池
- #電気化学試験
-
マイクロフォーカスＸ線検査装置（μF-X線）
川﨑技術支援部
- 性能評価
- 非破壊検査
- 電気・電子製品
- 機械製品
- #不具合
- #内部観察機器
-
ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
-
低エネルギーイオンミリングを用いた化合物半導体の高分解能観察例
FIBによるTEM試料作製ではGaイオンビームによるダメージ層（～20nm）が加工面に形成されてしま...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 電子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
-
FIB-SEMによる断面観察事例
FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。 FIB-SEMによるコ...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
- #組成分析