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ポリエチレンフィルム熱溶着界面の断面観察事例
シーリング不良により熱溶着差の生じたポリエチレンフィルムにおいて、断面観察を行い界面の様子を明らかに...
川﨑技術支援部
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ポリエチレンのラメラのSEM観察事例
ポリエチレンの表面・内部構造をSEM、SEM-STEMにて観察しました。 <試料>...
川﨑技術支援部
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金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...
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光学多層薄膜上の異常部の解析事例
光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...
川﨑技術支援部
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イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例
Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...
川﨑技術支援部
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HIPSの三次元解析事例
FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽...
川﨑技術支援部
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めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析
めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...
川﨑技術支援部
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マイクロカンチレバーの作製・測定事例
マイクロカンチレバー※を作製し、その試験片を用いて、材料表面（微小領域）の強度測定を行えます。 ...
川﨑技術支援部
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表面改質金属の断面解析例
微粒子ピーニング処理により表面改質させた金属を断面方向から可視化することで、表面付近の内部構造を明ら...
川﨑技術支援部
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低エネルギーイオンミリングを用いた化合物半導体の高分解能観察例
FIBによるTEM試料作製ではGaイオンビームによるダメージ層（～20nm）が加工面に形成されてしま...
川﨑技術支援部
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- #電子顕微鏡
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電子染色を利用した中空糸の断面観察事例
試料を電子染色することで、高分子材料である中空糸の断面構造をSEMにて高コントラストに観察しました。...
川﨑技術支援部
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FIB-SEMによる断面観察事例
FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。 FIB-SEMによるコ...
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