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携帯電話ケース異常突起物の断面解析例
＜使用機器＞ 精密機械研磨装置（EM-TXP） 光学顕微鏡 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- #光学顕微鏡
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- 金属材料
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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マイクロカンチレバーの作製・測定事例
マイクロカンチレバー※を作製し、その試験片を用いて、材料表面（微小領域）の強度測定を行えます。 ...
川﨑技術支援部
- 強度試験
- 材料強度
- 金属材料
- セラミックス・無機酸化物
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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表面改質金属の断面解析例
微粒子ピーニング処理により表面改質させた金属を断面方向から可視化することで、表面付近の内部構造を明ら...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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MOCVD法で作製したβ-FeSi2薄膜の結晶粒観察事例
単結晶基板上にMOCVD法で作製したβ-FeSi2膜の結晶性、結晶サイズ、膜厚を断面方向からの観察で...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 電子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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低エネルギーイオンミリングを用いた化合物半導体の高分解能観察例
FIBによるTEM試料作製ではGaイオンビームによるダメージ層（～20nm）が加工面に形成されてしま...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 電子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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電子染色を利用した中空糸の断面観察事例
試料を電子染色することで、高分子材料である中空糸の断面構造をSEMにて高コントラストに観察しました。...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #形状観察
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FIB-SEMによる断面観察事例
FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。 FIB-SEMによるコ...
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
- #組成分析
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イオンミリング装置 [IB-19520CCP]
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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イオンミリング装置 [Ilion+]
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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精密機械研磨装置 [Leica EM-TXP]
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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ウルトラミクロトーム
川﨑技術支援部
- 材料観察
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工