2022年12月21日
集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]
概要
最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製、三次元解析を行うことが可能です。本装置は高性能電子光学系を有したSEMを搭載しているため、金属、セラミックス、有機物など様々な試料から多様な情報を得ることができます。元素分析装置(EDS)、結晶方位解析装置(EBSD)も搭載しており、多角的な解析が可能です。
特徴
・微細な領域の断面加工と観察を行うことができます。
・材料の三次元解析を行うことができます。
・付属のEDSにより、試料の元素分析を行うことができます。
・付属のEBSDにより、結晶性材料の方位解析を行うことができます。
・低真空モードを使用することで、セラミックス等の絶縁材料を無蒸着で分析することができます。
機器情報
メーカー名 | 日本エフイー・アイ株式会社 |
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型番 | Scios LoVacシステム |
仕様 | SEM分解能:1.0nm(15kV)、1.6nm(1kV) 検出器:二次電子検出器、反射電子検出器 推奨試料サイズ:最大30mm径×10mm程度 FIB分解能:5nm EDS:X-MaxN 150mm2(Oxford製) 分析モード:点分析、線分析、面分析 分析対象元素:B~U その他 低真空観察(10~50Pa) |
導入年度 | 2016 |
ご利用方法
依頼試験(KISTEC事業名:試験計測)で利用できます。