2021年2月17日

蛍光X線分析装置（波長分散方式・XRF）[RIX3100]

化学技術部
海老名
  • 固体・表面分析
  • 金属材料
  • 無機材料
  • #異物
  • #トラブル対策
  • #有害物質規制（有害元素）
  • #元素分析
蛍光X線分析装置（波長分散方式・XRF）[RIX3100]

概要

金属・セラミック・その他材料の元素定性分析ができます。
50試料の連続測定が可能です。

【用途・特徴】
　F～Uの元素分析(定性)、金属、セラミック、有機物、その他種々の材料のバルクおよび表面分析

機器情報

メーカー名 理学電機工業株式会社
型番 RIX3100
仕様 X線管球(Rh4kW)、上面照射型、シーケンシャルタイプ(F～U)
導入年度 1998

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）、委託受託（KISTEC事業名：技術開発受託）で利用できます。