2021年2月17日
蛍光X線分析装置(エネルギー分散方式・XRF)[XGT-5000WR]
概要
金属・セラミック・その他材料の元素定性分析装置です。スポット(点)測定及びマッピング(面)分析が可能です。
【用途・特徴】
定性分析、マッピング分析、RoHS 指令元素(Pb、Cd、Hg、全Cr、全Br)のスクリーニング
機器情報
メーカー名 | 株式会社堀場製作所 |
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型番 | XGT-5000WR |
仕様 | エネルギー分散型 X 線分析顕微鏡 測定元素 : Na ~ U スポット測定範囲 : 100 μmΦ、1.2 mmΦ 面分析測定範囲 : 100 mm × 100 mm 最大試料サイズ : 350(W) × 400(D) × 40(H) mm 透過像測定可 X 線管球 : Rh 管球(50 W) |
導入年度 | 2005 |
ご利用方法
依頼試験(KISTEC事業名:試験計測)で利用できます。