2021年3月4日

X線光電子分光分析装置（走査型・XPS）[VersaProbeⅡ]

機械・材料技術部
海老名
  • 固体・表面分析
  • 金属材料
  • 無機材料
  • 高分子材料
  • #変色
  • #表面分析
  • #組成分析
X線光電子分光分析装置（走査型・XPS）[VersaProbeⅡ]

概要

本装置 は、試料にＸ線を照射し、試料表面から放出される光電子のエネルギーを測定することにより、表面の組成並びに化学結合状態に関する情報を得る装置です。

【用途・特徴】
ロボットの関節に使う摩擦摩耗特性に優れた摺動材、効率の良い燃料電池やリチウム電池電極、生体適合性の高い材料の開発を支援します。
プラスチック材料・セラミック材料・金属製品の表面の変色、腐食などの不具合を分析することにより、故障解析を行います。
・最小ビーム径: 10μm以下
・最高エネルギー分解能: 0.5eV以下 (Ag3d 5/2)
・最大感度: 1000000cps (Ag3d 5/2 の半値幅 1.0eVのとき)
・到達圧力: 6.7×10-8Pa以下
・オプション: 加熱冷却ステージ

機器情報

メーカー名 アルバック・ファイ株式会社
型番 VersaProbeⅡ
導入年度 2013

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）、委託受託（KISTEC事業名：技術開発受託）で利用できます。