2021年3月1日
蛍光Ｘ線分析装置（微小部・XRF）[SEA6000VX HSFinder]
概要
金属材料を主体にどのような元素で構成されているか分析することができます。
蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する蛍光Ｘ線を測定することで元素の確認（定性）や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量（半定量）を得ることができる装置です。
金属，半導体，有機物及びセラミックスとあらゆる固体に対応でき、元素情報を得るための入り口的な装置として、中小企業から大企業の多種多様なニーズに対応できる装置です。
【特徴】
♦ 大きい試料も非破壊で測定
♦ 微小からバルクまでの分析領域
♦ 広範囲の高速マッピング
機器情報
| メーカー名 | SIIナノテクノロジー株式会社 |
|---|---|
| 型番 | SEA6000VX HSFinder |
| 仕様 | X線源：空冷式小型X線管球（Wターゲット）、コリメータ方式 X線照射向き：上面照射 分析領域 ：200μm，500μm，1.2mm，3mm， 分析元素 ：Mg～U （Heパージ使用時 Na～U） 試料室 ：580（W）×450（D）×150（H）mm マッピング面積 ：250×200mm |
| 導入年度 | 2010 |
ご利用方法
依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）、機器使用で利用できます。
機器使用料金
| NO. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 |
|---|---|---|---|
| K2210 | 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF） [SEA6000VX HSFinder] | SII社 SEA6000VX HSFinder | 6,050円 |
