走査電子顕微鏡写真撮影

機械・材料技術部
海老名
  • 微細構造観察
  • 金属材料
  • 無機材料
  • #破面
  • #表面観察
  • #電子顕微鏡
  • #結晶構造解析
  • #組成分析

FE-SEM 装置の外観
FE-SEM 装置の外観

材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察

【試験対象】
 各種材料および機械部品

【関連キーワード】
 走査電子顕微鏡写真撮影(SEM:Scanning Electron Microscope)

使用機器

走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS/EBSD)[JSM-7800F Prime]
走査電子顕微鏡(汎用SEM/EDS/LV)[JSM-IT200LA]

料金

NO. 項目 単位 料金
E0011 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1試料1視野観察につき 21,120円
E0012 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍以下 1視野追加 1視野追加観察につき 4,840円
E0013 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1試料1視野観察につき 30,910円
E0014 走査電子顕微鏡写真撮影 5万倍を超えて10万倍以下 1視野追加 1視野追加観察につき 9,240円
E0015 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1試料1視野観察につき 52,250円
E0016 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの 1視野追加 1視野追加観察につき 14,960円
E0017 走査電子顕微鏡写真撮影 10~15視野 115,940円
E0018 走査電子顕微鏡写真撮影 16~30視野 173,910円
E0021 エネルギー分散型X線分析(EDS) 
(E0011~E0018、E1790に適用)
1ヶ所につき 7,150円
倍率及び撮影の追加等により、料金が加算されます。

担当部署

機械・材料技術部 ナノ材料グループ