材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察

【試験対象】
　各種材料および機械部品

【関連キーワード】
　走査電子顕微鏡写真撮影（SEM：Scanning Electron Microscope）

使用機器

料金

倍率及び撮影の追加等により、料金が加算されます。

NO.	項目	単位	料金
E120401-01	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下	１試料１視野観察につき	21,120円
E120401-02	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍以下　１視野追加	１視野追加観察につき	4,840円
E120401-03	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下	１試料１視野観察につき	30,910円
E120401-04	走査電子顕微鏡写真撮影　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加	１視野追加観察につき	9,240円
E120401-05	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの	１試料１視野観察につき	52,250円
E120401-06	走査電子顕微鏡写真撮影　10万倍を超えるもの　１視野追加	１視野追加観察につき	14,960円
E120401-07	走査電子顕微鏡写真撮影　10～15視野		115,940円
E120401-08	走査電子顕微鏡写真撮影　16～30視野		173,910円
E120401-09	エネルギー分散型X線分析（EDS）　 （E0011～E0018、E1790に適用）	１ヶ所につき	7,150円

担当部署

機械・材料技術部　ナノ材料グループ