2024年8月21日

イオンミリング法による試料調製

川﨑技術支援部
溝の口
  • 試料調製・前処理
  • （材料共通）
  • #微細加工

イオンビームを用いた断面試料作製

【試験対象】
　金属、セラミックス、めっき、塗膜等

クロスセクションポリシャ（Arイオンビーム研磨）による試料加工

料金

NO. 項目 単位 料金
E0022 イオンミリング法による試料調製（１）　（標準的なもの） １試料１ヶ所につき 45,100円
E0023 イオンミリング法による試料調製（２）　（複雑なもの） １試料１ヶ所につき 67,430円

担当部署

機械・材料技術部　材料物性グループ