2024年8月21日 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 電子技術部 海老名 半導体・実装 電気・電子製品 #半導体特性評価 半導体中の不純物(ドーピング元素)をスペクトルピーク値から定性分析し、ピーク強度から半定量分析します。 【試験対象】 シリコン、ガリウム砒素Arイオンレーザー照射、4.5~5Kの極低温での評価 使用機器 フォトルミネッセンス測定装置 料金 NO. 項目 単位 料金 E1070 高分解能(1nm以下)フォトルミネッセンス測定 1試料1条件につき 74,250円 担当部署 電子技術部 電子材料グループ