2024年8月21日
X線光電子分光分析（走査型・XPS）
固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー（EK）と強度を測定する手法である。測定したEKから、各軌道における電子の結合エネルギー（EB）を算出することにより、元素分析が可能である。また、注目原子に結合する原子の種類や結合状態によって、EBはわずかに変化する。この変化を測定することにより化学状態分析もできる。なお、XPSの測定深さは数nm程度である。
使用機器
![X線光電子分光分析装置（走査型・XPS）[VersaProbeⅡ]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/c499f080bb720fe9a3c78124867bffc1-scaled.jpg)
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| E111010-01 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき | 15,840円 |
| E111010-02 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・ワイドおよびナロースキャン） |
１試料１ヶ所につき（6元素まで） | 23,540円 |
| E111010-03 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・面分析，線分析） | １試料１ヶ所につき（5元素まで） | 24,640円 |
| E111010-04 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・深さ方向分析） | １試料１ヶ所につき（6元素まで） | 37,180円 |
| E111010-05 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 条件増 | １条件増すごとに | 5,720円 |
| E111010-06 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 元素増（１） | １元素増すごとに（E111010-02, E111010-03に適用） | 4,950円 |
| E111010-07 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 元素増（２） | １元素増すごとに（E111010-04に適用） | 7,370円 |