Ｘ線回折法による試料の結晶構造解析、スペクトル検索同定が可能です。薄膜X線装置では逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定が可能です。

【試験対象】
　粉末又は薄膜試料、無機材料・化合物、有機材料、複合素材

試料形態等により分析装置を選択します。

【関連するキーワード】
　XRD，結晶構造解析

使用機器

料金

NO.	項目	単位	料金
E111601-01	Ｘ線回折試験（Ι）粉末X線回折	１試料につき	24,090円
E111601-02	Ｘ線回折試験（Ⅱ）高度な粉末Ｘ線回折・薄膜X線回折	１試料につき	36,630円
E111601-03	Ｘ線回折試験（Ⅲ）高度な薄膜Ｘ線回折	１試料につき	56,650円

担当部署

電子技術部　電子材料グループ