走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。

【試験対象】
　電子材料

使用機器

料金

NO.	項目	単位	料金
E1780	走査型プローブ顕微鏡観察	標準１条件１測定につき	23,320円
E1781	走査型プローブ顕微鏡観察　１視野追加	１視野追加につき	10,780円

担当部署

電子技術部　電子材料グループ