2024年8月21日

走査型プローブ顕微鏡観察

電子技術部
海老名
  • 微細構造観察
  • 電子材料
  • #原子間力顕微鏡
  • #形状測定

走査型プローブ顕微鏡像
原子ステップサファイア及び電子線レジストパターン

走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナノスケール程度のプローブを試料表面に接近させ、プローブ先端と試料間との相互作用を制御することにより形状、その他の特性を計測します。

【試験対象】
　電子材料

使用機器

走査プローブ顕微鏡

料金

NO. 項目 単位 料金
E1780 走査型プローブ顕微鏡観察 標準１条件１測定につき 23,320円
E1781 走査型プローブ顕微鏡観察　１視野追加 １視野追加につき 10,780円

担当部署

電子技術部　電子材料グループ