2024年8月21日
電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定
走査電子顕微鏡に付属された電子線後方散乱回折（EBSD）図形を観測する装置を用いて、観察視野内での結晶方位分布を知ることができます。
【試験対象】
金属材料、無機材料など
走査電子顕微鏡：日本電子製 JSM-7800F Prime
電子線後方散乱回折観測装置：オックスフォードインストゥルメンツ社製 AZtec HKL
使用機器
![走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS/EBSD）[JSM-7800F Prime]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/fe-sem-visual-JSM7800FPrime.jpg)
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| E1790 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 | １視野測定につき | 49,500円 |
| E1791 | 電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定 １視野追加 |
１視野追加測定につき | 12,760円 |
| E0021 | エネルギー分散型X線分析（EDS） （E0011～E0018、E1790に適用） |
１ヶ所につき | 7,150円 |