Ｘ線回折法による試料の結晶構造解析、スペクトル検索同定が可能です。薄膜X線装置では逆格子マッピングや薄膜法、反射率測定が可能です。

【試験対象】
　粉末又は薄膜試料、無機材料・化合物、有機材料、複合素材

試料形態等により分析装置を選択します。

【関連するキーワード】
　XRD，結晶構造解析

使用機器

料金

NO.	項目	単位	料金
E2510	Ｘ線回折試験 （Ι）　粉末X線回折	１試料につき	24,090円
E2520	Ｘ線回折試験 （Ⅱ）　高度な粉末Ｘ線回折・薄膜X線回折	１試料につき	36,630円
E2530	Ｘ線回折試験 （Ⅲ）　高度な薄膜Ｘ線回折	１試料につき	56,650円

担当部署

電子技術部　電子材料グループ