2024年8月21日

電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）

機械・材料技術部
海老名
  • 固体・表面分析
  • 無機材料
  • 電気・電子製品
  • #JKA
  • #不具合
  • #元素分析
  • #電子顕微鏡
  • #組成分析

細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不具合箇所における介在物・析出物・異物等の構成元素を分析します。

【試験対象】
　金属、セラミックス、樹脂等

【関連するキーワード】
　FE-EPMA, Field Emission Electron Probe Micro Analyzer , 電界放出型電子線マイクロアナライザ、表面局所分析

使用機器

電子線マイクロアナライザ（電界放出型・FE-EPMA）

料金

NO. 項目 単位 料金
E2570 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） １ヶ所につき 29,370円
E2581 エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） 7,260円
E2582 表面観察（FE-EPMAによる）　１ヶ所増 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） 4,510円
E2590 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA）　追加分析 １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） 9,130円

担当部署

機械・材料技術部　解析評価グループ