2024年8月21日
表面観察（FE-EPMAによる）
材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察
【試験対象】
金属、セラミックス、樹脂等
細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。
変色や腐食・破壊等の不具合箇所における介在物・析出物・異物等の構成元素を分析します。（E2581、E2590）
使用機器
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| E2580 | 表面観察（FE-EPMAによる） | １ヶ所につき | 20,350円 |
| E2581 | エネルギー分散型X線分析（EDS・FE-EPMAによる） | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 7,260円 |
| E2582 | 表面観察（FE-EPMAによる） １ヶ所増 | 同一試料で１ヶ所増すごとに（E2570, E2580に適用） | 4,510円 |
| E2590 | 電子線マイクロアナライザ観測（FE-EPMA） 追加分析 | １ヶ所につき（E2570, E2580に適用） | 9,130円 |