試料に X 線を照射して被膜あるいは素地を構成する元素固有の蛍光X線強度を測定することで被膜の膜厚を非破壊で測定します。

【測定対象】
　メッキ製品
【関連キーワード】
　XRF膜厚測定

使用機器

料金

NO.	項目	単位	料金
E3020	蛍光X線法による膜厚測定	１試料１ヶ所につき	5,170円

担当部署

化学技術部　環境安全・バイオグループ