2024年8月21日
蛍光X線法による膜厚測定
試料に X 線を照射して被膜あるいは素地を構成する元素固有の蛍光X線強度を測定することで被膜の膜厚を非破壊で測定します。
【測定対象】
メッキ製品
【関連キーワード】
XRF膜厚測定
使用機器
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| E3020 | 蛍光X線法による膜厚測定 | １試料１ヶ所につき | 5,170円 |