2024年8月21日
走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
・材料の表面形態観察を30倍から80万倍の範囲で観察できます。
・光学顕微鏡に比べて焦点深度が深いので、凹凸のある試料でも観察が可能です。
・付属のEDSにより元素分析が可能ですので、付着物や変色部分などトラブルシューティングにおいても威力を発揮します。
・低加速電圧での高倍率観察や走査透過電子顕微鏡（STEM）観察が可能です。
仕様
・分解能：1.0nm（15kV）1.4nm（1kVリターディングモード）
・検出器：二次電子検出器、反射電子検出器
・試料サイズ：最大100mm径
・EDS：Gnensis2000（EDAX製）
・分析モード：点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素：B～U
・その他：透過電子検出器, EBIC観察ユニット, リターディング観察
使用機器
![走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/KD3NA001-2_HITACHI_S4800_1152x648.jpg)
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| K1010 | 走査電子顕微鏡観察 （電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍以下 |
観察倍率５万倍以下 １条件につき | 21,450円 |
| K1015 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍以下 条件追加 |
観察倍率５万倍以下 １条件追加につき | 4,950円 |
| K1020 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍を超えて10万倍以下 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件につき |
31,020円 |
| K1025 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] ５万倍を超えて10万倍以下 条件追加 |
観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 １条件追加につき |
9,680円 |
| K1030 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10万倍を超えるもの |
観察倍率10万倍を超えるもの １条件につき |
52,470円 |
| K1035 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10万倍を超えるもの 条件追加 |
観察倍率10万倍を超えるもの １条件追加につき |
15,400円 |
| K1040 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） |
１条件追加につき | 15,400円 |
| K1041 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 条件追加 |
１条件追加につき | 4,950円 |
| K1042 | 走査電子顕微鏡（電界放出型）[S-4800] エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS） 面分析 |
面分析１条件につき | 16,390円 |
| K1050 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 10～15視野 |
１試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 114,400円 |
| K1052 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 16～30視野 |
１試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） | 170,060円 |
| K1055 | 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800] 条件追加 |
１条件追加につき | 12,540円 |
