走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]

川崎技術支援部
溝の口
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FE-SEM S4800
FE-SEM S4800

・材料の表面形態観察を30倍から80万倍の範囲で観察できます。
・光学顕微鏡に比べて焦点深度が深いので、凹凸のある試料でも観察が可能です。
・付属のEDSにより元素分析が可能ですので、付着物や変色部分などトラブルシューティングにおいても威力を発揮します。
・低加速電圧での高倍率観察や走査透過電子顕微鏡(STEM)観察が可能です。

仕様
・分解能:1.0nm(15kV)1.4nm(1kVリターディングモード)
・検出器:二次電子検出器、反射電子検出器
・試料サイズ:最大100mm径
・EDS:Gnensis2000(EDAX製)
・分析モード:点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素:B~U
・その他:透過電子検出器, EBIC観察ユニット, リターディング観察

使用機器

走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]

料金

NO. 項目 単位 料金
K120401-01 走査電子顕微鏡観察
(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]  5万倍以下
観察倍率5万倍以下 1条件につき 21,450円
K120401-02 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 5万倍以下 条件追加 観察倍率5万倍以下 1条件追加につき 4,950円
K120401-03 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 5万倍を超えて10万倍以下 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
1条件につき
31,020円
K120401ー04 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 5万倍を超えて10万倍以下 条件追加 観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
1条件追加につき
9,680円
K120401-05 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 10万倍を超えるもの 観察倍率10万倍を超えるもの 
1条件につき
52,470円
K120401-06 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 10万倍を超えるもの 条件追加 観察倍率10万倍を超えるもの 
1条件追加につき
15,400円
K120404-01 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] エネルギー分散型X線分析(EDS) 1条件追加につき 15,400円
K120404-02 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] エネルギー分散型X線分析(EDS) 条件追加 1条件追加につき 4,950円
K120404-03 走査電子顕微鏡(電界放出型)[S-4800] エネルギー分散型X線分析(EDS) 面分析 面分析1条件につき 16,390円
K120401-07 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 10~15視野 1試料の観察視野が10~15視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 114,400円
K120401-08 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 16~30視野 1試料の観察視野が16~30視野につき(観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る) 170,060円
K120401-09 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 条件追加 1条件追加につき 12,540円
観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

担当部署

川崎技術支援部 材料解析グループ