微小部蛍光X線分析(XRF)

川﨑技術支援部
溝の口
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蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。

分析領域:200μm,500μm,1.2mm,3mm/分析元素:Mg~U (Heパージ使用時 Na~U)

使用機器

蛍光X線分析装置(微小部・XRF)[SEA6000VX HSFinder]

料金

NO. 項目 単位 料金
K1210 微小部蛍光X線分析(XRF) 1試料1条件につき 7,590円
K1211 微小部蛍光X線分析(XRF) 条件追加 1条件追加につき 3,520円

担当部署

川崎技術支援部 材料解析グループ