2024年8月21日
微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析
蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する蛍光Ｘ線を測定することで元素の確認（定性）や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量（半定量）を得ることができる装置です。
マッピング面積：250×200mm
使用機器
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| K1212 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 | 面分析１条件につき（５元素まで） | 12,100円 |
| K1213 | 微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 条件追加 | 面分析１条件追加につき | 2,530円 |