2024年8月21日

走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]

川﨑技術支援部
溝の口
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FE-SEM 7800F
FE-SEM 7800F

最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有機物、磁性材料など様々な試料に対し、低倍率から高分解能観察まで行うことができる電子顕微鏡です。検出器を多数付属していることから組成像、凹凸像など様々な画像を取得することができます。元素分析装置も搭載しており、試料の元素同定や分布など有用な情報も得ることができます。

特徴
・光学顕微鏡では得られない焦点深度の深い観察が行えます。
・30倍から100万倍まで幅広い領域の観察が行えます。
・付属のEDS分析装置で試料の組成や分布がわかります。
・低真空モードを使用することで、絶縁材料等を無蒸着で観察することができます。
・STEM検出器を用いた透過像の観察が可能です。
・GBモードを使用すると、極低加速電圧で微細構造を観察することができます。

仕様
・分解能：0.7nm（15kV）, 0.7nm（1kV）
・検出器：上方検出器（UED）、上方二次電子検出器（USD）、下方検出器（LED）、反射電子検出器（BED）
・試料サイズ：最大100mm径
・EDS：NORAN System7（サーモフィッシャーサイエンティフィック製）
・分析モード：点分析, 線分析, 面分析
・分析対象元素：B～U
・その他：STEM観察, 低真空観察, GB観察

使用機器

走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]

料金

NO. 項目 単位 料金
K1310 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　５万倍以下		 観察倍率５万倍以下１試料１視野観察につき 21,120円
K1315 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　５万倍以下　　１視野追加		 観察倍率５万倍以下　
同一試料において１視野追加観察につき		 4,840円
K1320 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　５万倍を超えて10万倍以下		 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 　
１試料１視野観察につき		 30,910円
K1325 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　５万倍を超えて10万倍以下　１視野追加		 観察倍率５万倍を超えて10万倍以下 　
同一試料において１視野追加観察につき		 9,240円
K1330 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　10万倍を超えるもの		 観察倍率10万倍を超えるもの
１試料１視野観察につき		 52,250円
K1335 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　10万倍を超えるもの　１視野追加		 観察倍率10万倍を超えるもの
同一試料において１視野追加観察につき		 14,960円
K1392 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　10～15視野		 １試料の観察視野が10～15視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） 115,940円
K1395 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　16～30視野		 １試料の観察視野が16～30視野につき（観察倍率関係なし。ただし、設定可能な試料に限る） 173,910円
K1342 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　低真空モード		 低真空モードの使用 11,220円
K1343 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　STEM		 透過像観察機能（STEM）の使用 11,220円
K1340 走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　１条件追加		 １条件追加につき　 11,220円
K1350 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
点分析		 点分析１視野１箇所につき 17,380円
K1351 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
点分析追加		 点分析同一視野内で１箇所追加につき 5,170円
K1352 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
線分析		 線分析１視野１箇所につき 23,540円
K1353 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
線分析追加		 線分析同一視野内で１箇所追加につき 8,360円
K1354 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
面分析		 面分析１視野につき 35,860円
K1356 走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS）
[JSM-7800F Prime]　エネルギー分散型Ｘ線分析（EDS）　
各種データ処理		 各種データ処理１条件につき 5,170円
観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

担当部署

川崎技術支援部　微細構造解析グループ