2024年8月21日
分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
♠数千倍から数百万倍まで、広範囲の倍率で試料の微細構造観察ができます。
♠EDS分析により数nmの分解能で元素分析が行うことができます。
♠電子線回折や暗視野像からは試料の結晶情報が得られます。
特長
♣2台のEDSを搭載することで、X線分析の収集効率と精度が格段に向上し、これまでより短時間に詳細な分析が可能です。
♣従来のEDS分析では困難であった元素の組み合わせでも最新のピーク分離機能により面分析が可能になりました。
♣HAADF-STEM像（高角度散乱暗視野像）での像強度は原子番号の二乗に比例するため、軽い原子と比較して重い原子が選択的に観察できます。
立会い観察分析も可能です。
♦撮影箇所や分析箇所を指定でき、欲しい情報が的確に得られます。
♦データを受取るだけでは得られない多くの情報を得る事ができます。
♦画像データはその場でお渡しできます。
・分解能：0.10nm
・観察モード：明視野像、暗視野像、高分解能像、STEM像
・エネルギー分散型分析装置：サーモフィッシャーサイエンティフィック NORAN System SIX（検出器2台装備）
・最小分析領域：0.3nm
・分析モード：点分析、線分析、面分析
・分析対象元素：B～U
使用機器
![分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/FE-TEM-EDS_EM002BF-1200x675-1.jpg)
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| K1440 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍以下 |
倍率 10万倍以下 １視野につき | 19,470円 |
| K1445 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍以下 １視野増 |
倍率 10万倍以下 １視野増すごとに | 7,040円 |
| K1441 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍を超えて50万倍以下 |
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野につき |
25,850円 |
| K1446 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増 |
倍率 10万倍を超えて50万倍以下 １視野増すごとに |
14,080円 |
| K1450 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 50万倍を超えて200万倍以下 |
倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野につき |
35,530円 |
| K1455 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増 |
倍率 50万倍を超えて200万倍以下 １視野増すごとに |
19,470円 |
| K1451 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 200万倍を超えるもの |
倍率 200万倍を超えるもの １視野につき | 51,590円 |
| K1456 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 200万倍を超えるもの １視野増 |
倍率 200万倍を超えるもの １視野増すごとに | 29,590円 |
| K1460 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 試料傾斜調整 |
試料傾斜調整 １条件ごとに | 13,420円 |
| K1470 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 制限視野回折 |
制限視野回折 １視野につき | 16,500円 |
| K1471 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 微小領域回折 |
微小領域回折 １視野につき | 29,590円 |
| K1472 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 明視野像 |
明視野像 １視野につき | 19,470円 |
| K1473 | 分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 暗視野像 |
暗視野像 １視野につき | 35,530円 |
| K1510 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 点分析 |
点分析 １試料１測定点につき |
28,710円 |
| K1515 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 点分析追加 |
点分析 同一試料において１測定点追加につき |
6,160円 |
| K1540 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 定量分析 |
定量分析 １試料１測定点につき |
24,970円 |
| K1545 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 定量分析追加 |
定量分析 同一試料において１測定点追加につき |
7,370円 |
| K1520 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 線分析 |
線分析 １測定５元素までごとに |
68,090円 |
| K1530 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] 面分析 |
面分析 １視野５元素ごとに、または２時間につき |
109,230円 |
| K1550 | 分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）[EM002BF] データ処理 | 各種データ処理 １条件につき | 12,320円 |
