2024年8月21日

画像解析システム

川﨑技術支援部
溝の口
  • 微細構造観察
  • 金属材料
  • 無機材料
  • 高分子材料
  • #画像解析

FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。

使用機器

集束イオンビーム装置（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]

料金

NO. 項目 単位 料金
K1832 画像解析システム　三次元再構築 １測定対象につき 62,590円
K1834 画像解析システム　三次元データ処理 １条件追加につき 12,430円
K1840 画像解析システム　画像解析 １測定対象につき 23,760円
K1842 画像解析システム　データ処理 １条件追加につき 6,270円
上記の料金には、SEM画像の撮影料金は含まれておりません。

担当部署

川崎技術支援部　微細構造解析グループ