集束イオンビーム装置観察(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]

川﨑技術支援部
溝の口
  • 微細構造観察
  • 金属材料
  • 無機材料
  • 高分子材料
  • #電子顕微鏡
  • #結晶構造解析
  • #組成分析
  • #微細加工
FIB-SEM scios
FIB-SEM scios

最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製、三次元解析を行うことが可能です。本装置は高性能電子光学系を有したSEMを搭載しているため、金属、セラミックス、有機物など様々な試料から多様な情報を得ることができます。元素分析装置(EDS)、結晶方位解析装置(EBSD)も搭載しており、多角的な解析が可能です。

特徴

  • 微細な領域の断面加工と観察を行うことができます。
  • 材料の三次元解析を行うことができます。
  • 付属のEDSにより、試料の元素分析を行うことができます。
  • 付属のEBSDにより、結晶性材料の方位解析を行うことができます。
  • 低真空モードを使用することで、セラミックス等の絶縁材料を無蒸着で分析することができます。

仕様

  • SEM分解能:1.0nm(15kV)、1.6nm(1kV)
  • 検出器:二次電子検出器、反射電子検出器
  • 推奨試料サイズ:最大30mm径×10mm径程度
  • FIB分解能:5nm
  • EDS:X-MaxN 150mm2(Oxford製)
  • 分析モード:点分析, 線分析, 面分析
  • 分析対象元素:B~U
  • その他:低真空観察(10~50Pa)

マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製

ナノインデンター用の片持ち試験片(マイクロカンチレバー)をFIBで作製します。

※マイクロカンチレバー法
 幅と高さが数µm程度の五角形の断面形状を有する片持ち試験片(マイクロカンチレバー)をFIBで作製し、試験片の端にナノインデンターで荷重を印加して 破壊試験を実施します。破壊荷重と試験片の寸法から強度や破壊靭性などの機械的特性を測定する手法です。
 最大の特徴は試験片が非常に小さいため、バルク体中の粒子や粒界、表面処理層、腐食部 といった 局所領域の機械的特性を測定できる点です。

使用機器

集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)[Scios LoVacシステム]

料金

NO. 項目 単位 料金
K1940 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)
[Scios LoVacシステム]
1時間以内 35,530円
K1941 集束イオンビーム装置(マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD)
[Scios LoVacシステム] 追加
追加1時間当たり 30,470円
K1950 マルチ解析用FIBオプション 
カーボン膜デポジション
10分当たり 2,420円
K1951 マルチ解析用FIBオプション 
プラチナ膜デポジション
10分当たり 2,310円
K1960 マルチ解析用FIB付属のSEM観察 1試料1視野観察につき 20,900円
K1961 マルチ解析用FIB付属のSEM観察  視野追加 同一試料において1視野追加観察につき 4,730円
K1962 マルチ解析用FIB付属のSEM観察  条件追加 同一試料において1条件追加につき 4,730円
K1965 マルチ解析用FIB付属のSEM観察オプション  低真空 低真空モードの使用 11,660円
K1970 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション    
EDS分析測定  点分析
点分析1視野1箇所につき 17,380円
K1971 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション    
EDS分析測定  点分析追加
点分析同一視野内で1箇所追加につき 5,940円
K1974 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
EDS分析測定  線分析
線分析1視野1箇所につき 23,210円
K1975 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
EDS分析測定  線分析追加
線分析同一視野内で1箇所追加につき 8,910円
K1976 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
EDS分析測定  面分析
面分析1視野につき 34,760円
K1978 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
EDS分析測定  各種データ処理
各種データ処理1条件につき 5,940円
K1980 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション  
EBSD分析測定  結晶方位マップ
結晶方位マップ1視野につき 48,840円
K1981 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
EBSD分析測定  視野追加
同一試料で1視野追加につき 11,660円
K1984 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション  
EBSD分析測定  条件追加
1条件追加につき 11,220円
K1985 マルチ解析用FIB付属のSEMオプション 
EBSD分析測定  各種データ処理
各種データ処理1条件につき 5,940円
K1990 マルチ解析用FIB-SEMによる
三次元再構築用連続断面画像の取得
1測定につき 120,230円
K1995 マルチ解析用FIB-SEMによる
三次元再構築用連続断面画像の取得  条件追加
1条件追加につき 12,210円
K1930 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 標準 標準的な作製(SEM観察含む)5本につき 193,710円
K1932 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 複雑 複雑な作製(SEM観察含む) 5本につき 292,820円
K1935 マルチ解析用FIB-SEMによる微小試験片の作製 条件追加 1条件追加につき 11,880円
各条件(観察、分析、加工面積)により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。

K1930、K1932、K1935:微小試験片の作製のみ、ナノインデンターの費用は別途発生します。

担当部署

川崎技術支援部 微細構造解析グループ