2024年8月21日
Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドスキャンのみ）
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。
試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（水素、ヘリウム以外）、半定量分析（検出限界～0.1at%程度）を行います。
金属や半導体、酸化物、セラミックス、有機物などの絶縁物試料等、超高真空試料室内に導入可能なあらゆる固体が対象です。
アルバック・ファイ社製 Quantera SXM
・ビーム径9µm～200μmでの微小部分析
・試料サイズW70×D70×H18mm 以下
用途・応用例
・目視、顕微鏡では確認できない表面の汚染、吸着、付着物分析
・表面改質評価
・金属薄膜の組成、化学結合状態の評価
・物質表面のしみ、変色分析
・電子材料の故障解析
・光触媒の劣化解析
使用機器
![Ｘ線光電子分光分析装置（走査型・XPS）[Quantera SXM]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/KD3MA001_XPS-1-1.png)
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| K5002 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 27,610円 |
| K5005 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 追加試料 |
追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 21,780円 |
| K5007 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 条件増 |
１条件増すごとに（ワイドスキャンのみ） | 5,610円 |
