FE-SEMによる金属破断面観察

川﨑技術支援部
溝の口
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金属材料の破面(破損した切り口)を観察することで破損の原因を調べることができます。

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)

使用機器

電界放出型走査電子顕微鏡 株式会社日立ハイテクノロジーズ S-4800

延性破面
延性破面

金属が破断した際の正常な破面で、結晶組織が引きちぎられて破断する「粒内破壊」の破断面です。多くの窪みが確認できることから「ディンプル模様」とも呼ばれています。

粒界破面
粒界破面

金属組織の結晶粒界に沿って破壊が進行した場合に見られる破面です。例えば、応力腐食割れの場合はこのような破断面を示します。

疲労破面
疲労破面

破壊が進んだり止まったりを繰り返していく際に見られる破面で、ストライエーションとも呼ばれます。木の年輪のように見える筋目が破壊の進行を示したものですが、通常の構造部材は破面が小刻みに擦れてしまうためこのような綺麗な模様が残ることは稀です。

金属の破面観察は比較的低倍率で行われます。

使用機器

走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]

料金

NO. 項目 単位 料金
K1010 走査電子顕微鏡観察
(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]  5万倍以下
観察倍率5万倍以下 1条件につき 21,450
K1015 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
5万倍以下 条件追加
観察倍率5万倍以下 1条件追加につき 4,950

ご利用方法

依頼試験(KISTEC事業名:試験計測)で利用できます。