FE-SEMによるTiO2ナノチューブの形態観察

川﨑技術支援部
溝の口
  • 微細構造観察
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FE-SEMによる拡大観察をおこなうことで微細な構造を見ることができます。今回は作製方法の異なる2種類のTiO2ナノチューブの形態観察を行いました。

使用機器

電界放出型走査電子顕微鏡

株式会社日立ハイテクノロジーズ S-4800

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)
観察倍率20,000倍
試料1 観察倍率20,000倍

細い管がびっしり並んでいる様子がわかります

試料1 観察倍率300,000倍
試料1 観察倍率300,000倍

管の直径が数十nmであることがわかります

試料2 観察倍率1,500倍
試料2 観察倍率1,500倍

こちらは繊維のように見えます

試料2 観察倍率100,000倍
試料2 観察倍率100,000倍

管というより棒のように見えます

使用機器

走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]

料金

NO. 項目 単位 料金
K1010 走査電子顕微鏡観察
(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]  5万倍以下
観察倍率5万倍以下 1条件につき 21,450
K1015 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
5万倍以下 条件追加
観察倍率5万倍以下 1条件追加につき 4,950
K1020 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
5万倍を超えて10万倍以下
観察倍率5万倍を超えて10万倍以下 
1条件につき
31,020
K1030 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800]
 10万倍を超えるもの
観察倍率10万倍を超えるもの 
1条件につき
52,470
K1035 走査電子顕微鏡観察(電界放出型・FE-SEM/EDS)[S-4800] 
10万倍を超えるもの 条件追加
観察倍率10万倍を超えるもの 
1条件追加につき
15,400
K4120 試料前処理(切断、導電処理等) 処理時間30分につき 1,650

ご利用方法

依頼試験(KISTEC事業名:試験計測)で利用できます。