2024年4月5日
XPSによる光触媒試料表面の分析事例
ガラス基板上に塗布した光触媒試料の表面分析
XPSワイドスキャン分析により、光触媒材料表面に、どのような元素が存在するかわかります。
観察例
・スピンコート法でガラス基板に塗布した光触媒層（2種）
使用機器
・Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ）
・アルバック・ファイ社 Quantera SXM
分析例
・光触媒層表面の分析
・XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量
試料Bは、Aに比べて表面の炭素（C 1s）が約3.3倍、チタン（Ti 2p）は約0.6倍程度であることが分かりました。試料Bは、Aに比べて表面に露出した光触媒が少なく、またその原因は表面の有機物にあることが示唆されました。
XPSは、試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析に用いられる機器です。そのため、表面で反応が進行する光触媒材料の分析に適した装置といえます。
ご利用を希望される方へ
このページのご紹介内容は、依頼試験でご利用いただけます。
今回のようなXPSワイドスキャン測定を実施した場合は、下記料金表が適用されます。詳細はお問い合わせください。
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| K5002 | Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） | １試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 27,610 |
| K5005 | Ｘ線光電子分光分析 （走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ） 追加試料 |
追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ） | 21,780 |
