2024年4月5日

XPSによる光触媒試料表面の分析事例

川﨑技術支援部

溝の口

XPSワイドスキャン分析により、光触媒材料表面に、どのような元素が存在するかわかります。

　・スピンコート法でガラス基板に塗布した光触媒層（2種）

　・Ｘ線光電子分光分析装置（ＸＰＳ）
　・アルバック・ファイ社　　Quantera SXM

　・光触媒層表面の分析
　・XPSワイドスキャンによる元素分析および簡易定量

試料Bは、Aに比べて表面の炭素（C 1s）が約3.3倍、チタン（Ti 2p）は約0.6倍程度であることが分かりました。試料Bは、Aに比べて表面に露出した光触媒が少なく、またその原因は表面の有機物にあることが示唆されました。

XPSは、試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析に用いられる機器です。そのため、表面で反応が進行する光触媒材料の分析に適した装置といえます。

このページのご紹介内容は、依頼試験でご利用いただけます。

今回のようなXPSワイドスキャン測定を実施した場合は、下記料金表が適用されます。詳細はお問い合わせください。

料金

NO.	項目	単位	料金
K5002	Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ）	１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）	27,610
K5005	Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS・表面分析・ワイドスキャンのみ）追加試料	追加１試料１ヶ所につき（ワイドスキャンのみ）	21,780

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。