2023年5月9日
X線光電子分光法(XPS)による銅材表面の化学状態解析
化学状態解析でわかること
機械・材料技術部解析評価グループでは,銅材に生じた光沢低下の要因を調査するために,X線光電子分光分析装置(アルバック・ファイ社製 PHI5000 VersaProbeⅡ)を使用して,銅材表面から得られた光電子スペクトルおよびオージェ電子スペクトルを用いた化学状態解析を行いました。
左側が本来の光沢がある銅材,右側が光沢が低下した銅材です。
X線光電子分光法(XPS)による表面分析
写真1の銅材について,X線光電子分光分析装置(アルバック・ファイ社製 PHI5000 VersaProbeⅡ)を使用して表面分析を行いました。
銅(Cu)のメインピークとして観測されたCu2p光電子スペクトルです。
縦軸が強度,横軸が電子の結合エネルギー値(eV)になります。
それぞれのスペクトルにおけるピーク位置や形状は類似しており,特に違いは見られません。
CuLMMオージェ電子スペクトルです。
光沢がある銅材と非光沢の銅材では,明らかにスペクトル形状の異なることがわかります。
これより,光沢のある銅材表面では主に金属Cuが,非光沢の銅材表面ではCu₂Oが存在していることがわかりました。
つまり,銅材の光沢が低下した要因として,表面への酸化物の形成が推測されました。
X線光電子分光法(XPS)について
XPSは,固体表面にX線を照射して光電効果により放出される光電子の運動エネルギー(Eĸ)と強度を測定する手法です。測定したEĸから各軌道における電子の結合エネルギー(Eʙ)が算出されます。Eʙは元素固有の値をもつため元素分析ができます。また,注目原子に結合する原子の種類や結合状態によってEʙは変化することがあり,このことを利用した化学状態解析もできます。なお,今回の例のようにX線励起のオージェ電子スペクトルを利用することもあります。
なお,XPSの測定深さは数nm程度になります。
※エネルギーのEは斜体
ご利用を希望される方へ
このページのご紹介内容は、依頼試験でご利用いただけます。
使用機器
料金
NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
---|---|---|---|
E1980 | X線光電子分光分析(走査型・XPS・ワイドスキャンのみ) | 1試料1ヶ所につき | 15,840 |