X線透過観察事例

川﨑技術支援部
溝の口
  • 非破壊検査
  • 電気・電子製品
  • 機械製品
  • #内部観察機器

観察例1 PCのCPU

PCのマザーボードに搭載されたCPUの透過画像
PCのマザーボードに搭載されたCPUの透過画像

通常のICはリードフレームと呼ばれる端子で接続されますが、CPUは端子では数が足りないためデバイス背面に並べられたボール状のはんだにより電極と接合されます。
この接合方式ははんだの形状からBGA(Ball grid array)といわれます。
この試料は不良品ではないので特に問題はありませんが、接合不良の場合ははんだが変形していたり、隣同士がくっついたりした様子が確認できます。

観察例2 IC内部の非破壊観察

IC内部の透過画像
IC内部の透過画像

リードフレームから伸びているAuワイヤが確認できます。
実際は中央にシリコンチップが搭載されているのですが、シリコンは軽元素なのでX線が透過してしまい、存在するはずのシリコンチップが見えずにAuワイヤが宙に浮いているように見えます。

観察例3 ロッカスイッチの接触状態観察

(a) スイッチの外観
(a) スイッチの外観
(b) ONの状態
(b) ONの状態
(c) OFFの状態
(c) OFFの状態

観察例4 断線しかかっている配線の非破壊検査

断線しかかっている配線の透過画像
断線しかかっている配線の透過画像