2022年12月10日
ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例
ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモルフォロジー評価を行いました。
＜試料＞
耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）
＜使用機器＞
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
ウルトラミクロトーム
SEMでもサブミクロン領域のモルフォロジー評価が可能
広視野での観察により、製品内部の微細構造解析が可能
分析事例を見るANALYSIS CASE STUDY