ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモルフォロジー評価を行いました。

＜試料＞
耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）

＜使用機器＞
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
ウルトラミクロトーム

SEMでもサブミクロン領域のモルフォロジー評価が可能

広視野での観察により、製品内部の微細構造解析が可能

使用機器

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。