防振ゴムの断面観察事例
防振ゴムの内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。
<試料>
防振ゴム
<使用機器>
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
断面試料作製用イオンミリング装置
図1 防振ゴムの断面SEM像 (断面加工の比較)
イオンミリング加工は無応力加工のため、複合材の断面加工も可能です。
使用機器
走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]
ご利用方法
依頼試験(KISTEC事業名:試験計測)で利用できます。