トナー粒子の内部構造を調査するため、イオンミリング装置にて作製した断面のSEM観察を行いました。

＜試料＞
トナー粒子
＜使用機器＞
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
断面試料作製用イオンミリング装置

柔らかい材料の内部構造の観察も可能です。

使用機器

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。