イオンミリング装置を使用し、有機モノリス構造体の構造観察を行いました。

＜試料＞
有機モノリス構造体（樹脂多孔体にPTFE、TiO2をブレンドした機能材料）
＜使用機器＞
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）
断面試料作製用イオンミリング装置

使用機器

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。