シーリング不良により熱溶着差の生じたポリエチレンフィルムにおいて、断面観察を行い界面の様子を明らかにしました。

＜試料＞
低密度ポリエチレンフィルム
＜使用機器＞
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）

使用機器

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。