ポリエチレンの表面・内部構造をSEM、SEM-STEMにて観察しました。

<試料>
ポリエチレンフィルム
＜使用機器＞
電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）

使用機器

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。