2022年12月10日
金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。
＜試料＞
試料：Auめっき/Niめっき/Cu母材
＜使用機器＞
集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）
→ 内部を観察するため、FIB断面加工へ
FIB-SEMにより断面を作製
・付着物ではなく、内部から噴出した腐食生成物？
・金めっきに無数のボイドあり
～結果～
・異常部は付着物ではなく、めっき内部から噴出
・Auめっきに無数のボイドが存在
・Au/Ni界面にClを含むNi酸化物が存在
～推定原因～
・Auめっき前の洗浄不足によりClが残留？
・Auめっきのボイドから下地(Ni)へOが供給
→異常部は腐食生成物がめっき表面に形成したもの