2022年12月10日

HIPSの三次元解析事例

川﨑技術支援部
溝の口
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FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽出を行いました。

　※FIB-SEMシリアルセクショニング法：イオンビームでエッチングした断面をSEMで撮影し、掘り進む毎に撮影を繰り返すことで三次元情報を構築していく手法。

＜試料＞
耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）
＜使用機器＞
集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）

耐衝撃性ポリスチレンの三次元解析

使用機器

集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]

ご利用方法

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）で利用できます。