ワイヤボンディングの断面SEM観察事例

川﨑技術支援部
溝の口
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精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。
イオンミリング装置と組み合わせることで詳細な観察をすることができます。

<試料>
SDカード
<使用機器>
精密機械研磨装置(EM-TXP)
断面試料作製用イオンミリング装置
電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)

<作業工程>
①EM-TXP(精密機械研磨装置)→ ②イオンミリング装置 → ③導電性処理 → ④FE-SEM観察

ワイヤボンディングの断面SEM像

使用機器

精密機械研磨装置 [Leica EM-TXP]
イオンミリング装置 [IB-19520CCP]
走査電子顕微鏡(電界放出型・FE-SEM/EDS)[JSM-7800F Prime]

ご利用方法

依頼試験(KISTEC事業名:試験計測)で利用できます。